个人信息：
姓名：武欣 职称：讲师
专业：机械电子工程 学历层次：博士
办公室地点：行政楼1107 办公电话：021-67874553
电子邮箱：xinwu@sues.edu.cn
研究方向：测试计量技术及仪器，包括光学精密测量技术、子孔径拼接技术、数字化计量技术及应用等
主讲课程：《嵌入式系统》、《机械电子工程专业英语》、《机械原理》等
个人简介：(教育背景、工作经历)
教育经历：
2005-2009年 中国矿业大学，机械工程及自动化本科
2009-2011年 中国矿业大学，机械工程硕士
2012-2017年 上海大学，机械电子工程博士
2015-2016年英国哈德斯菲尔德大学 公派联合培养
工作经历：
2018年-至今js6668金沙登录入口 js6668金沙登录入口 讲师
主要科研成果：（代表性论文、专利、著作等）
论文：
1.Xin Wu, Ying-Jie Yu, Ke-Bing Mou, er al. In-situ stitching interferometric test system for large plano optics. Advances in Manufacturing. (2018) 6:195–203
2.Xin Wu, Yingjie Yu, Wenhan Zeng, et al. Non-overlap subaperture interferometric testing for large optics. Optics Communications, (2017) 396:191–198
3.Xin Wu, Yingjie Yu, Experimental study on the in-situ measurement for large optical flats. Proc. SPIE 10827. 2018.
4.Xin Wu, Experimental research of dynamic stitching interferometry for large plano optics. Proc. SPIE 10250. 2017.
5.Wu Xin, Te Qi, et al. Systemic errors calibration in dynamic stitching interferometry. Proc. SPIE 98900Z, 2016.
6.Wu Xin,Te Qi, et al. Dynamic stitching interferometric testing for large optical plane. Proc. SPIE 952614, 2015.
7.张小强, 武欣, 王伟荣,于瀛洁. 平面光学元件平面度动态干涉拼接测量[J]. 计量学报, 2016, 37(5). （通讯作者）
专利：
1.超精密磨削大口径光学元件平面度在位检测装置及方法，发明专利201310134419.1，已授权，第1发明人
2.大口径光学元件动态干涉拼接测量装置及测量方法，发明专利201410614760.1，已授权，第1发明人
3.大口径光学元件中低频面形快速检测装置及方法，发明专利201410614996.5，已授权，第1发明人
著作：
1.参与编写《GPS几何公差规范及应用图解》，机械工业出版社
